手機的加速壽命測試試驗方法

樣機標準數(shù)量： PR1：10臺  PR2：12臺   PR3：12臺   PIR：12臺
試驗周期：10-12天
室溫下參數(shù)測試：
1.1溫度沖擊測試                                  
測試環(huán)境：低溫箱：-30° C ；高溫箱：+70° C
試驗方法：手機帶電池，設置成關機狀態(tài)先放置于高溫箱內持續(xù)45分鐘后，在15秒內迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后，再15秒內迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán)，共循環(huán)27次。實驗結束后將樣機從溫度沖擊箱（高溫箱）中取出，恢復2小時后進行外觀、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機表面噴涂無異變，結構無異常，功能正常，可正常。
1.2.跌落試驗：
測試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（對于觸摸屏手機,跌落高度為1.3m）
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)進行跌落。對于直握手機，進行6個面的自由跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為1次，每個面跌落之后進行外觀、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，進行8個面的自由跌落實驗；其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋。跌落結束后對外觀、結構和功能進行檢查。
試驗標準：手機外觀，結構和功能符合要求。
1.3振動試驗：
測試條件：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz；振幅：0.19mm/振頻：30~55Hz；
測試目的：測試樣機抗振性能
試驗方法：將手機開機放入振動箱內固定夾緊。啟動振動臺按X、Y、Z三個軸向分別振動1個小時，每個軸振完之后取出進行外觀、結構和功能檢查。三個軸向振動試驗結束后，對樣機進行參數(shù)測試。
試驗標準：振動后手機內存和設置沒有丟失現(xiàn)象，手機外觀，結構和功能符合要求，參數(shù)測試正常，晃動無異響。
1.4 濕熱試驗：
測試環(huán)境：60° C，95%RH
測試目的：測試樣機耐高溫高濕性能
試驗方法：將手機處于關機狀態(tài)，放入溫濕度實驗箱內的架子上，持續(xù)60個小時之后取出，常溫恢復2小時，然后進行外觀、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機外觀，結構和功能符合要求。
1.5  靜電測試： 
測試條件：+/-4kV~+/-8kV，開機并處于充電狀態(tài)，+/-4kV接觸和~+/-8kV空氣放電各10次。具體測試方法詳見公司測試標準細則。
測試目的：測試樣機抗靜電干擾性能                                          
試驗標準：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障。